• 500VA 输出
• Floating 输出设计，符合EN50191要求
• Corona 电晕放电侦测(19055-C)
• Flashover 电气闪络侦测
• BDV崩溃电压分析
• 专利 HFCC高频接触侦测
• 专利 OSC开短路侦测
• GFI人体保护电路
• 标准RS232&HANDLER介面
• 可选购GPIB介面
• 不良时面板锁定功能
• 可程式电压输出及测试限制值
• 支援 A190301 高压扫描治具

功能

• 耐压测试 
  - 交流 5kV/100mA 
  - 直流 6kV/25mA
• 绝缘电阻测试 
  - 5kVmax 
  - 1MΩ~50GΩ

量测技术

耐压测试绝缘崩溃(BREAKDOWN) /电气闪络(FLASHOVER) /电晕放电侦测技术(CORONA)

何谓耐压不良? 大部份的电气安规标准叙述为"During the test, no flashover or breakdown shall occur"，意指在耐压测试中，不得有电气闪络或绝缘崩溃发生。但现今绝缘失效(Failure)及放电(discharge)已成为各类绝缘材料或耐压零组件最重视的议题。由于放电与绝缘能力之间具有极高的相关性，所以放电侦测不仅是安全议题，更是控制产品品质的主要关键。若依材料放电的性质来分类，放电可分为三种 : 电晕放电(Corona discharge)、火花放电(Glow discharge)、电弧放电(Arc discharge) 。

电晕放电(Corona Discharge): 当二电极间承受较高电压时，电场强度相对较大，当此作用大于气体之电离位能(Ionization Potential) ，于材料表面气体发生暂态离子化的现象，此时会有可见光出现以及温升现象。长期的电晕放电与温升可能会造成材料的质变(Qualitative Change)，进而导致绝缘劣化 (Insulation Deterioration) ，使得绝缘耐受程度下降，最终发生绝缘失效。图1为电晕放电示意图。由于电晕放电会产生高频的暂态放电，是可以用高频电量量测的方式侦测。

火花放电(Glow Discharge) 及电弧放电(Arc Discharge): 绝缘材料内部或表面因高电压产生电气放电，待测物失去原有之绝缘特性，形成暂态或非连续性放电，严重者会导致碳化产生导电通路或产品伤害。如右图2可知，瞬间暂态的放电并无法以漏电流量判定检出不良，须以测试电压或漏电流之变化率判定检出不良。因此电气闪络(Flashover/ARC)侦测为高压测试不可或缺的检测项目之一。

针对不同放电的环境，Chroma 19055提供对应的放电特性侦测技术，包含电晕放电(Corona)侦测(19055-C only)，电气闪络(ARC/Flashover) 侦测以及漏电流判定(绝缘破坏Breakdown)，这些功能可成为研发或品保单位在耐压测试与分析时的最佳利器。

崩溃电压分析(BREAKDOWN VOLTAGE ANALYSIS, BDV)

被动元件的高压耐受程度 (withstanding voltage)决定于材料及制程。为提升元件的绝缘品质及能力，需要分析放电的程度，其包含电晕放电 (Corona discharge)、电气闪络 (Flashover/ARC)及绝缘破坏 (Breakdown)的耐受程度。 Chroma 19055耐压分析仪新增崩溃电压分析(Breakdown Voltage Analysis, BDV)功能。经由设定爬升的启始电压、结束电压、次数及时间，进行放电程度分析。

崩溃电压分析 (Breakdown Voltage Analysis, BDV)功能提供三阶段判断方式，可设定电晕放电检测 (Corona limit)、电气闪络检测(Flashover/ARC)、绝缘崩溃检测 (Breakdown, high limit)。当测试中有不良出现时， Chroma 19055会依放电不同阶段的限制值，显示出耐压强度(withstanding voltage)，其分别代表电晕放电启始电压(Corona discharge Start Voltage, CSV)、电气闪络启始电压(Flashover Start Voltage, FSV) 以及绝缘崩溃电压(Breakdown Voltage, BDV)。藉由这些测试结果，研究人员可以对产品进行分析与研究，针对元件绝缘较弱的部份进行改善。

防止产品测试时接触失败高频接触检查 (HFCC) &开短路侦测(OSC)专利号 254135

高频接触检查功能 (High Frequency Contact Check, HFCC) 是 Chroma新研发的接触检查技术。 HFCC设计在AC/DC耐压测试项目之中，当耐压测试进行时，一并检查是否有接触不良的问题。 HFCC之测试频率提高至约 500KHz，可大幅提升接触检查的准确度，并有效提升产线生产效率。

在耐压测试过程中若发生开路现象，会导致不良品误判为良品 ;若发生短路现象，可提早得知并筛选，减少对治具设备的伤害，节省测试成本。

一般耐压测试产品皆呈电容性(Cx)，在正常状态下可能在数十pF至数μ F之间，一旦发生连接断路则会在断路界面形成微小电容量(图4.2之Cc)，一般低于10pF，而呈现整体电容量远低于正常产品现象。而当待测物短路或接近短路时时则会呈现电容量远高于正常现象。因此可利用电容量变化之上下限值判断，减少产线接触不良的问题发生。

人员安全保护设计输出电路功能 (FLOATING OUTPUT) 与接地失效中断 (GROUND FAULT INTERRUPT, GFI)

安规测试的目的是为了保护产品使用者的安全。而当作业员在操作仪器时，也需要仪器的保护设计。 Chroma 19055拥有二种作业员保护安全设计供选择，分别为浮接输出 (Floating Output) 及接地失效中断 (GFI) 设计。

为了让测试人员能安全无虑的使用安规测试设备，Chroma 以全新技术研发Floating 输出电路，并符合EN50191 设备安全标准。在Floating 输出的状态下，对地具有高阻抗，无论测试人员碰触到任何耐压测试端子，接地的漏电流 iH皆不会大于3.5mA，测试人员不会受到电气伤害。如图5所示。

GFI 功能为另一项人体保謢电路。如图6可知，可由电流表A1及A2 分别得到i1 及i2 ; 当操作人员触电时，电流表分别测得不同数值，其差异为i1 - i2 = iH , 当iH过高时，即判定为GFI 不良，并会立即切断输出讯号，保障使用者的安全。

产品应用

Chroma 19055-C耐压分析仪具备电晕放电侦测功能 (CDD)，进行电晕放电侦测，降低客诉发生率。并可使用崩溃电压分析功能(BDV)寻找产品的电晕放电启始电压(CSV)、电气闪络启始电压(FSV)及绝缘崩溃电压(BDV)，对于产品研发阶段的绝缘能力验证，以及产品制程的可靠度，提供参考的数据。

常态电压下电晕放电检测

变压器: 当电子产品在常态电压使用时，若内部初级电路绝缘不良，导致初级端的绕组长期处于电晕放电状态，在经过一段时间后，必然会影响绝缘能力。电源变压器就是一个例子，目前部份电源变压器之设计，多会保留一组辅助线圈予其他电路使用，如图7.2所示，在长期的Vpk=750V下，当制作工艺不良， 如绝缘胶带加工不良，套管不良等，导致持续性电晕性放电发生，初级绕阻间的绝缘能力将会有所影响，进而漆包碳化而烧毁。
马达: 旋转电机类产品如工业用马达或电动车用马达等，由于使用时间较长且使用环境温湿度变化大，需求高耐用性与可靠度。温度与湿度也是影响绝缘的要素，若在线圈与线圈间，及线圈对铁心发生电晕放电，将导致长期的温升与材料质变化，导致绝缘劣化。在耐压测试中加入电晕放电测试功能，提高对绝缘品质的要求，可找出绝缘能力较不佳的产品，有效降低因长期使用而发生的不良机率。