开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

特点

• 完善的解决方案，价格实惠且性能优异
• 可现场升级和重新配置，将 PCT 转换成可靠性或晶片分类测试仪
• 可配置功率电平：
  • 200V 至 3kV
  • 1A 至 100A
• 宽动态范围：
  • µV 至 3kV
  • fA 至 100A
• 全量程容-电压 (C-V) 能力：
  • fF 至 µF
  • 支持 2、3 和 4 端器件
  • 高达 3kV DC 偏移
• 高性能测试夹具支持一系列软件包类型

• 探头测试台接口支持最常见的探头类型，包括 HV 同轴三线电缆、SHV 同轴电缆、标准同轴三线电缆等